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GB/T.21-英文版光缆总规范第21部分：光缆基本试验方法 机械性能试验方法
Opticalfibrecablegenericspecification-Part21:Basicopticalcabletestprocedures-Mechanicaltestmethods
1范围
GB/T的本部分规定了光缆机械性能各试验方法的目的、试样、设备、程序.要求.待规定的细节和待报告的细节。
本部分适用于光缆，包括光纤单元、微管光纤单元等,也适用于光电混合缆。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T.20--光缆总规范第20部分:光缆基本试验方法总则和定义(IEC-1-2:,MOD)
GB/T.22--光纤试验方法规范第22部分:尺寸参数的测量方法和试验程序一长度(IEC-1-22:,MOD)
GB/T.40光纤试验方法规范第4项部分:传输特性和光学特性的测量方法和试验程序一衰减(GB/T.40-,IEC-1-40:,MOD)
GB/T.46--光纤试验方法耀范第46部分:传输特性和光学特性的测量方法和试验程序一一透光率变化(IEC-1-46:,MOD)
GB/T--架空导线蠕变试验方法(IEC:,1DT)
3方法E1:拉伸性能
3.1目的
本试验适用于在特定的拉伸下,检验受试光缆的衰减、光纤伸长应变和(或)光缆应变与加在光缆上的负载的函数关系,这个负载可能发生在安装或运行期间。本试验的意图是非破环性的。
3.2试样
除非相关规范另有规定,受试长度为两卡盘入口切点间的光缆长度与一个卡盘周长之和,光缆受试长度不小于50m.对于需要专门锚定的光缆(例如OPGW.ADSS.粗钢丝铠装光缆等),受试长度不小于25m.拉伸试验中的过短长度试样将影响测量精度。上面指出的长度是对本试验给出的最小长度。试样的总长度应大于受试长度.以便夹持和连接到测量设备。
4方法E2:磨损
4.1目的
光缆耐磨损有两种
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a)光缆护套耐磨损能力,方法E2A;
b)光缆标志耐磨损能力,方法E2B,E2B不适用于挤塑而形成的色条等护套标志。
本试验的目的是确定光缆护套或护套标志的耐磨损能力。
4.2试样
试样应是一-段长度足以实施本试验的光缆。典型长度为mm.
4.3方法E2A:光缆护套耐磨损
4.3.1设备
磨损试验装置应能在平行于光缆纵轴(40士1)mm长度的方向上,以(55士5)循环/min的频次擦磨光缆表面。擦磨刃口在两个方向上来回移动一次构成一个循环。
擦磨刃口应是一根钢针,其直径为1.0mm或按详细规范中的规定。
一个典型设备见图3。
5方法E3:压扁
5.1目的
本试验的目的是确定光缆承受长期或短期压扁负载的能力。
5.2试样
试样应是一段足以实施本试验的光缆。
5.3方法E3A:平板/平板.
5.3.1设备
设备应使光缆试样在一块平钢板基座和一块可移动钢板之间受到压扁，可移动钢板把压扁力均匀地施加到试样的mm长度上。
可移动钢板的边缘应以大约5mm半径倒角。边缘不包括在钢板的mm平整部分之内。一台合适的设备示于图5.
6方法E4:冲击
6.1目的
本试验的目的是确定光缆承受冲击的能力.
6.2试样
6.2.1试样长度
试样长度应足以实施本试验。当只是评定物理损伤时，长度范围可从1m(例如小直径的软跳线或双芯光缆)到5m(例如较大直径光缆)。需测量衰减时,可能需要更长的长度。
6.2.2终端
7方法E6:反复弯曲
7.1目的
本试验的目的是确定光缆承受反复弯曲的能力。
带连接器光缆的反复弯曲作为-个单元来试验.检验光缆组件(有连接器)的耐反复弯曲能力,试验按相关详细规范的规定进行。
7.2试样
7.2.1试样长度
试样长度应足以施行本试验。当只是评定物理损坏时,长度范围可从1m(针对小直径的软跳线或双芯光缆)到5m(针对较大直径光缆)。为了衰减测量,可能需要更长的长度。
7.2.2终端
试样应在两端进行终端处理,以--种适当方式把各光纤.各护套和所有张力构件夹持在一起,利用弯曲设备上的夹具就可实现。试样为光缆组件或者光缆试样足够长时,可不再单独约束各元构件。
GB/T.21-英文版bzfyw.
